Zielorientierte Methodiken zum Bestehen der Europäischen Eignungsprüfung (EEP)
ISBN:
978-3-406-70789-6
Verlag:
C.H.Beck
Land des Verlags:
Deutschland
Erscheinungsdatum:
23.01.2017
Format:
Softcover
Seitenanzahl:
223
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Zum WerkFr alle Teilnehmer der Europ�ischen Eignungspr�fung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle pr�fungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.Besonders hilfreich: Immer dort, wo es f�r die Methodiken n�tig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erl�utert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Pr�fungsrichtlinien verwiesen.Vorteile auf einen Blick- Schritt-f�r-Schritt Vorgehensweisen- Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt- Details der Punktevergabe- Pr�fungsschemata f�r patentrechtliche Fragen- Formulierungsvorschl�ge und ganze Textpassagen- Tabellen als Bearbeitungshilfen- praktische Tipps f�r die Pr�fungZielgruppe:F�r Teilnehmer der Europ�ischen Eignungspr�fung.
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