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Adaptive Bayes’sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung

ISBN:
978-3-7908-0468-3
Verlag:
Physica
Land des Verlags:
Deutschland
Erscheinungsdatum:
12.04.1990
Reihe:
Arbeiten zur Angewandten Statistik
Format:
Softcover
Seitenanzahl:
231
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